Mesure automatique d’épaisseur de matériaux à l’aide de lignes parallèles
Mesure automatique d’épaisseur à l’aide de segments parallèles.
En complément d’ IPSDK Explorer, Reactiv’IP met à disposition de ses utilisateurs, une fonctionnalité pour mesurer l’épaisseur de couches de matériaux à l’aide de lignes parallèles. Cette méthode permet de:
- déterminer avec précision l’uniformité d’une couche sur une surface, ce qui est crucial pour garantir la qualité et la performance des produits, notamment dans la fabrication de revêtements et de films.
- mesurer automatiquement la longueur de chaque ligne parallèle régulièrement tracées perpendiculairement le long de l’axe principal de l’objet, il est possible de quantifier l’épaisseur de façon très précise et parfaitement reproductible.
- s’appliquer à une variété de matériaux, qu’ils soient métalliques, plastiques ou composites.
- offrir une précision accrue, particulièrement utile dans des applications à haute exigence comme l’aéronautique ou l’électronique.
Cet utilitaire s’adapte à toutes les orientations de vos objets tout en fournissant les épaisseurs moyenne, minimale et maximale mesurées le long de l’axe principal.
